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石山 新太郎
no journal, ,
界面化学的分散制御方式による高せん断解砕により対象粒子が微細化される原理と条件ならびに微細化後のターゲット粒子の分級回収による減容化効果についてレーザー粒子計により評価を行った。その結果、解砕分散により微細化した10
m以下の微細粒子を選択的に分級後回収することにより減容化率85%を達成した。